Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Microelectronic Reliability

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 466 punkty

Opis

A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering

• Pełny tytuł: Microelectronic Reliability
• Autor: Emiliano Pollino
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 556
• EAN: 9780890063507
• ISBN: 9780890063507
• ID: 05357937
• Wydawca: Artech House Publishers
• Waga: 982 g
• Wymiary: 229 × 152 × 34 mm
• Data wydania: 01. April 1989

Ulubione w innej kategorii

---

---

---