Zobacz książki o podobnej tematyce

Powiadomienie o dostępności

Więcej informacji o Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Opis

This editorial review of J784a is based upon decades of experience in the practical application of x-ray diffraction residual stress measurement methods in thousands of individual applications. J784 is a classic document. It serves as the only recognized standard for residual stress measurement available.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

• Pełny tytuł: Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction
• Autor: SAE International
• Język: Angielski
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 96
• EAN: 9780768010695
• ISBN: 0768010691
• ID: 04691740
• Wydawca: SAE International
• Wymiary: 279 × 229 mm
• Data wydania: 28. February 2003

---

---

---