Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Scanning Electron Microscopy

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 991 punkty

Opis

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Mathematics & science Science: general issues Scientific equipment, experiments & techniques

• Pełny tytuł: Scanning Electron Microscopy
• Podtytuł: Physics of Image Formation and Microanalysis
• Autor: Ludwig Reimer
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 529
• EAN: 9783540639763
• ISBN: 3540639764
• ID: 01566552
• Wydawca: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
• Waga: 954 g
• Wymiary: 166 × 242 × 34 mm
• Data wydania: 17. September 1998

Ulubione w innej kategorii

---

---

---