Zobacz książki o podobnej tematyce

Powiadomienie o dostępności

Więcej informacji o Terrestrial Neutron-induced Soft Error In Advanced Memory Devices

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 408 punkty

Opis

Terrestrial neutron-induced soft errors of semiconductor memory devices are currently a major concern in reliability issues. Understanding the mechanism and quantifying soft-error rates are primarily crucial for the design and quality assurance of semiconductor memory devices. This book covers the relevant up-to-date topics in terrestrial neutron-induced soft errors, and aims to provide succinct knowledge on neutron-induced soft errors to the readers by presenting several valuable and unique features.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Computing & information technology Computer hardware Storage media & peripherals

• Pełny tytuł: Terrestrial Neutron-induced Soft Error In Advanced Memory Devices
• Autor: Takashi Nakamura, Mamoru Baba, Eishi Ibe
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 368
• EAN: 9789812778819
• ISBN: 9812778810
• ID: 05068958
• Wydawca: World Scientific Publishing Co Pte Ltd
• Waga: 654 g
• Wymiary: 237 × 162 × 20 mm
• Data wydania: 03. April 2008

Ulubione w innej kategorii

---

---

---