Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Erganzend zu Vorlesung, zu Rechenubungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewahlter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Fur Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zuruck gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgefuhrt fur Schaltdiode, Kapazitatsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstarker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschlieende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dunnschicht-Silizium-Solarzellen.