Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Sprawdzić stan zamówienia

Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści. Załóż konto bezpłatnie

Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł

DPD Kurier 12.99 zł Poczta Polska 18.99 zł Paczkomat 13.99 zł InPost Kurier 12.99 zł Punkt DPD 11.99 zł

Kontakt

Jak kupować

Pomoc

Moje konto

▸ Pusty :-(

Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

VLSI Design and Test

Name: VLSI Design and Test
Brand: Springer
SKU: 41345619
Price: 520.94 PLN
Availability: InStock
Author: Anirban Sengupta
ISBN: 9789813297678

23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers

Santosh Kumar Vishvakarma

Język

Angielski

E-book Adobe ePub DRM

Kod Libristo: 41345619

Wydawnictwo Springer, sierpień 2019

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design an... Cały opis

Kod Libristo: 41345619

292 b

520.94 zł

Dostępna Produkt cyfrowy - wysyłamy od razu

Klienci kupili także

Hledá se Dory omalovánka neuvedený autor

Miękka

15.71 zł

Joseph Fouche Stefan Zweig

Miękka

32.96 zł

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.