Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Sprawdzić stan zamówienia

Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści. Załóż konto bezpłatnie

Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł

DPD Kurier 12.99 zł Poczta Polska 18.99 zł Paczkomat 13.99 zł InPost 12.99 zł Punkt DPD 13.99 zł

Kontakt

Jak kupować

Pomoc

Moje konto

▸ Pusty :-(

Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Advances in Pattern Recognition

Name: Advances in Pattern Recognition
Brand: Springer, Berlin
SKU: 01567575
Price: 436.59 PLN
Availability: InStock
Author: Francesc J. Ferri
ISBN: 9783540679462

Joint IAPR International Workshops SSPR 2000 and SPR 2000 Alicante, Spain, August 30 - September 1, 2000 Proceedings

Język

Angielski

Książka Miękka

Kod Libristo: 01567575

Wydawnictwo Springer, Berlin, listopad 1999

This book constitutes the joint refereed proceedings of the 8th International Workshop on Structural... Cały opis

Kod Libristo: 01567575

249 b

436.59 zł

Dostępna u dostawcy Wysyłamy za 5-8 dni

30 dni na zwrot towaru

Klienci kupili także

Afriyie: Mangow A1 Akenkanee Yaa Serwaa Somuah

Miękka

32.41 zł

Sobranie Jumoristicheskih Rasskazov. Tom 1 Anton Chekhov

Miękka

81.79 zł

Técnico/a Especialista en Laboratorio del Servicio Canario de Salud. Temario volumen 3 Silva García

Miękka

224.91 zł

Lexikon der Modelleisenbahn Manfred Hoße

Miękka

83.20 zł

This book constitutes the joint refereed proceedings of the 8th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition and the 3rd International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SSPR 2000 and SPR 2000, held in Alicante, Spain in August/September 2000. The 52 revised full papers presented together with five invited papers and 35 posters were carefully reviewed and selected from a total of 130 submissions. The book offers topical sections on hybrid and combined methods, document image analysis, grammar and language methods, structural matching, graph-based methods, shape analysis, clustering and density estimation, object recognition, general methodology, and feature extraction and selection.