Szanowni Klienci, z okazji święta państwowego w dniu dzisiejszym obsługa klienta będzie nieczynna. Na wszystkie wiadomości odpowiemy w najbliższym dniu roboczym. Dziękujemy za zrozumienie.

Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Sprawdzić stan zamówienia

Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści. Załóż konto bezpłatnie

Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł

DPD Kurier 12.99 zł Poczta Polska 18.99 zł Paczkomat 13.99 zł InPost 12.99 zł Punkt DPD 13.99 zł

Kontakt

Jak kupować

Pomoc

Moje konto

▸ Pusty :-(

Szanowni Klienci, z okazji święta państwowego w dniu dzisiejszym obsługa klienta będzie nieczynna. Na wszystkie wiadomości odpowiemy w najbliższym dniu roboczym. Dziękujemy za zrozumienie.

Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization

Name: Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 02182862
Price: 960.78 PLN
Availability: InStock
Author: Yoshio Waseda
ISBN: 9783662146378

Atomic-Scale Structure Determination

Yoshio Waseda

Język

Angielski

Książka Miękka

Kod Libristo: 02182862

Wydawnictwo Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, marzec 2013

The evolution of our understanding of most properties of new functional materials is related to our... Cały opis

Kod Libristo: 02182862

548 b

Gwarancja
najlepszej
ceny ▸

960.78 zł

Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 13-18 dni

30 dni na zwrot towaru

Klienci kupili także

Hikemates 7 - Včera a dnes

Twarda

82.71 zł

L'Aeroplane Fantome...: Voyages Excentriques Paul Ivoi (D')

Miękka

136.51 zł

amor de Dios VER NICA DEL VALLE

Twarda

112.32 zł

15 ART SONGS BY BRITISH COMPOSERS CHANT +CD Książka

binding.

191.02 zł

Santa Clause, 1 DVD (Special Edition) Larry Bock

DVD

44.66 zł

Nachruf auf die liberale Demokratie Crawford B. Macpherson

Miękka

71.87 zł

Homoeoteleuton in Latin Dactylic Verse D. R. Shackleton Bailey

Miękka

200.26 zł

Claudio Monteverdi und seine Zeit Silke Leopold

Twarda

162.21 zł

The evolution of our understanding of most properties of new functional materials is related to our knowledge of their atomic-scale structure. To further this, several X-ray and neutron techniques are employed. The anomalous X-ray scattering (AXS) method, exploiting the so-called anomalous dispersion effect near the absorption edge of the constituent element, is one of the most powerful methods for determining the accurate partial structure functions of individual pairs of constituents or the environmental functions around specific elements in multicomponent systems. AXS is useful for both crystalline and non-crystalline systems, for studies of surface and bulk materials. This book is the first on this new method of structural characterization. It describes the basics and application principles, and also treats the specifics of application to liquid alloys, supercooled liquids, solutions, metallic glasses, oxide glasses, superconducting ionic glasses etc.