Kontakt
Jak kupować
Dostawa
Doradca ds. zakupów
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Atomic-Scale Structure Determination
Angielski
556 b
najlepszej
ceny ▸
Nawet do 30 dni na zwrot
Klienci kupili także
/
Miękka
230.24
zł
/
Miękka
154.69
zł
The evolution of our understanding of most properties of new functional materials is related to our knowledge of their atomic-scale structure. To further this, several X-ray and neutron techniques are employed. The anomalous X-ray scattering (AXS) method, exploiting the so-called anomalous dispersion effect near the absorption edge of the constituent element, is one of the most powerful methods for determining the accurate partial structure functions of individual pairs of constituents or the environmental functions around specific elements in multicomponent systems. AXS is useful for both crystalline and non-crystalline systems, for studies of surface and bulk materials. This book is the first on this new method of structural characterization. It describes the basics and application principles, and also treats the specifics of application to liquid alloys, supercooled liquids, solutions, metallic glasses, oxide glasses, superconducting ionic glasses etc.
Informacje o książce
Angielski
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanegoMogłoby Cię także zainteresować
/
Miękka
112.58
zł
/
Twarda
1 060.08
zł
Cześć! Jestem Libroamiko, Twój doradca książkowy.
Jak mogę Ci pomóc?