Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

CMOS Test and Evaluation

Name: CMOS Test and Evaluation
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 14203439
Price: 560.22 PLN
Availability: InStock
Author: Manjul Bhushan
ISBN: 9781493947027

A Physical Perspective

Manjul Bhushan

Mark B. Ketchen

Język

Angielski

Książka Miękka

Kod Libristo: 14203439

Wydawnictwo Springer-Verlag New York Inc., wrzesień 2016

CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test a... Cały opis

Kod Libristo: 14203439

317 b

560.22 zł

Dostępna u dostawcy Wysyłamy za 5-8 dni

Nawet do 30 dni na zwrot

Klienci kupili także

Annales de l'industrie nationale et étrangère Marie-Anne Adélaïde Le Normand

Miękka

312.03 zł

L'atelier Mastodonte - Tome 1 - L'atelier Mastodonte, tome 1 collegium

Twarda

91.10 zł

Etude parasitologique des caprins de la province de Figuig, Maroc Driss Lamri

Miękka

167.82 zł

Lehren Und Lernen in Der Beruflichen Aus- Und Weiterbildung Peter F.E. Sloane

Miękka

133.87 zł

Flygkapare pa fri fot Brian Dan Christensen

Adobe ePub DRM

17.12 zł

HERMANOS DE MOUY

Miękka

83.70 zł

Coffret Pause Mat'chat, le maître chat de la cérémonie du thé

Miękka

128.90 zł

Star Trek - Picard 3: Schwarze Schafe Stephanie Pannen

Miękka

56.03 zł

Jorinde und Joringel Jacob Grimm

DVD

70.02 zł

Leib, das trage Tier - Zur Phanomenologie des Leibes in Alfred Doeblins Erzahlung Die Tanzerin und der Leib René Ferchland

Miękka

69.31 zł

Reglamento general de protección de datos Hernández López

Miękka

47.62 zł

DU CAIRE A DAMAS Porte

Książka

133.06 zł

Votre lettre de motivation en 12 étapes simples Daniel Porot

Miękka

103.26 zł

Comment regarder les couleurs dans la peinture Nouvelle édition Yves Charnay

Miękka

150.39 zł

Überwachen und Strafen - Das Geschäft mit der Angst Dikla Stern

Miękka

256.70 zł

El Arpa Del Hogar Jose Fornaris

Twarda

139.34 zł

Rodas: La historia y el legado de la isla griega desde tiempos antiguos hasta hoy Charles River Editors

Miękka

61.00 zł

TOKYO GHOUL 12 Sui Ishida

Miękka

31.51 zł

Strategien Der Integration Und Isolation Nicht-Nativer Einheiten Und Strukturen Carmen Scherer

Twarda

849.46 zł

Jamón curado : aspectos científicos y tecnológicos José Bello Gutiérrez

Miękka

257.20 zł

Análisis, retos y propuestas en torno a la trata de personas Cruz Zúñiga

Miękka

101.84 zł

Cartes d'Etude Pour Servir A l'Enseignement de la Geographie: Les Cinq Parties Du Monde, DuBois-M

Miękka

78.74 zł

CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.

Aktorka & Poliglotka

EWA KASP dla

Odtworzyć wideo

Libristo ma największy wybór literatury obcojęzycznej. Dlatego tutaj kupuję swoje książki.

Informacje o książce

Pełna nazwa CMOS Test and Evaluation

Autor Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Język

Angielski

Oprawa Książka - Miękka

Data wydania 2016

Liczba stron 424

EAN 9781493947027

ISBN 1493947028

Kod Libristo 14203439

Wydawnictwo Springer-Verlag New York Inc.

Waga 6613

Wymiary 155 x 235 x 23

Kategoria

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Inżynieria mechaniczna i materiałowa > Produkcja i inżynieria przemysłowa > Inżynieria niezawodności

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Elektronika i telekomunikacja > Inżynieria elektroniczna > Obwody i komponenty elektroniczne

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Elektronika i telekomunikacja > Inżynieria elektroniczna > Urządzenia i materiały elektroniczne

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Technika – zagadnienia ogólne > Inżynieria – zagadnienia ogólne