Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 ORLEN Paczka 10.99 Poczta Polska 18.99

Electromigration and Electronic Device Degradation

Język AngielskiAngielski
Książka Twarda
Książka Electromigration and Electronic Device Degradation Christou
Kod Libristo: 04892340
Wydawnictwo John Wiley & Sons Inc, luty 1994
Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the... Cały opis
? points 774 b
1 332.18
Dostępna u dostawcy Wysyłamy za 14-18 dni

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


Starting Economics Paper G F Stanlake / Miękka
common.buy 244.28
Postmodernism is Not What You Think Charles C. Lemert / Miękka
common.buy 217.63
South West Secret Agents Laura Quigley / Miękka
common.buy 52.58
Protest Stencil Toolkit Patrick rdomas / Miękka
common.buy 151.41

Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the metal atoms to migrate away from a high current density point and leads to the failure of integrated circuits. It is therefore an important reliability issue. This study reviews the topic for both the silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details, including an investigation of temperature dependence.

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo