Kontakt
Jak kupować
Dostawa
Doradca ds. zakupów
Electromigration Inside Logic Cells
Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Angielski
142 b
najlepszej
ceny ▸
30 dni na zwrot towaru
Klienci kupili także
/
Miękka
61.11
zł
This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.
Informacje o książce
Angielski
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanegoMogłoby Cię także zainteresować
/
Adobe ePub DRM
903.80
zł
/
Miękka
184.97
zł
/
Miękka
301.49
zł
