Kontakt
Jak kupować
Dostawa
Doradca ds. zakupów
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Angielski
249 b
Nawet do 30 dni na zwrot
Klienci kupili także
/
Miękka
148.92
zł
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate error effects, which aids the development of high-level fault-tolerant techniques. In total, the book presents 6 solutions for reliability estimation (3 for fault injection and 3 for analytical estimation) and 5 techniques for reliability exploration (3 for architectural level and 2 for system-level). It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.§§
Informacje o książce
Angielski
Kategoria
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanegoMogłoby Cię także zainteresować
/
Miękka
67.29
zł
/
Miękka
30.16
zł
Cześć! Jestem Libroamiko, Twój doradca książkowy.
Jak mogę Ci pomóc?