Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Sprawdzić stan zamówienia

Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści. Załóż konto bezpłatnie

Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł

DPD Kurier 12.99 zł Poczta Polska 18.99 zł Paczkomat 13.99 zł InPost 12.99 zł Punkt DPD 13.99 zł

Kontakt

Jak kupować

Pomoc

Moje konto

▸ Pusty :-(

Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

Name: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01559880
Price: 1090.39 PLN
Availability: InStock
Author: M. Schubert
ISBN: 9783540232490

Phonons, Plasmons, and Polaritons

M. Schubert

Język

Angielski

Książka Twarda

Kod Libristo: 01559880

Wydawnictwo Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, listopad 2004

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field w... Cały opis

Kod Libristo: 01559880

622 b

Gwarancja
najlepszej
ceny ▸

1 090.39 zł

Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 13-18 dni

30 dni na zwrot towaru

Klienci kupili także

Goethe Im Lichte Des Neuen Werdens Wilhelm Fehse

Miękka

239.67 zł

Eine Kuh geniesst die Aussicht Bärbel Stich

Miękka

49.57 zł

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects.A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.

Aktorka & Poliglotka

EWA KASP dla

Odtworzyć wideo

Libristo ma największy wybór literatury obcojęzycznej. Dlatego tutaj kupuję swoje książki.

Informacje o książce

Pełna nazwa Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

Autor M. Schubert

Język

Angielski

Oprawa Książka - Twarda

Data wydania 2004

Liczba stron 196

EAN 9783540232490

ISBN 3540232494

Kod Libristo 01559880

Wydawnictwo Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Waga 1060

Wymiary 155 x 232 x 17

Kategoria

Matematyka i nauki ścisłe > Chemia > Chemia fizyczna > Fizykochemia powierzchni

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Elektronika i telekomunikacja > Inżynieria elektroniczna > Urządzenia i materiały elektroniczne

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Inne gałęzie techniki i nauki stosowane > Optyka stosowana > Technika laserowa i holografia

Matematyka i nauki ścisłe > Fizyka > Optyka

Matematyka i nauki ścisłe > Fizyka > Elektryczność, elektromagnetyzm i magnetyzm

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Technika – zagadnienia ogólne > Inżynieria – zagadnienia ogólne

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Inżynieria mechaniczna i materiałowa > Materiałoznawstwo