Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Sprawdzić stan zamówienia

Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści. Załóż konto bezpłatnie

Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł

DPD Kurier 12.99 zł Poczta Polska 18.99 zł Paczkomat 13.99 zł InPost Kurier 12.99 zł Punkt DPD 13.99 zł

Kontakt

Jak kupować

Pomoc

Moje konto

▸ Pusty :-(

Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Intermittent Failures in Integrated Circuits

Name: Intermittent Failures in Integrated Circuits
Brand: Springer, Berlin
SKU: 01424417
Price: 611.86 PLN
Availability: InStock
Author: Alodeep Sanyal
ISBN: 9781441983145

Detection, Characterization and Fault Tolerance

Alodeep Sanyal

Sandip Kundu

Ilia Polian

Język

Angielski

Książka Twarda

Kod Libristo: 01424417

Wydawnictwo Springer, Berlin, lipiec 2015

This book presents a consolidated study of the entire class of intermittent failures by analyzing th... Cały opis

Kod Libristo: 01424417

346 b

611.86 zł

50 % szansa Przeszukamy cały świat Kiedy dostanę książkę?

Nawet do 30 dni na zwrot

Klienci kupili także

Rybáři a hastrmani Miloš Kratochvil

Miękka

41.29 zł

Thebais et Achilleis; recognovit brevique adnotatione critica instruxit H.W. Garrod P. Papinius Statius

Miękka

110.93 zł

Кругом одни идиоты. 4 типа личности: как найти подход к каждому из них Томас Эриксон

Miękka

45.23 zł

wiederverheirateten Geschiedenen und die Zulassung zur Eucharistie Ines Schulte

Miękka

69.22 zł

Offizielles Erinnern Und Die Situation Der Sinti Und Roma in Deutschland Gabi Meyer

Miękka

185.83 zł

Optimale W hrungsr ume Und Die Europ ische Integration Gertrud R. Traud

Miękka

181.78 zł

Celia en la revolución ELENA FORTUN

Miękka

105.66 zł

Die Schule der magischen Tiere 5: Top oder Flop! Margit Auer

Twarda

51.00 zł

Les Brises Du Soir, Poesies Oppepin-L

Miękka

116.39 zł

Mamitoneyihtamowina Ekwa Kotakak Ayisiniwak OT'Swepinikewiniwawa: Canadian Aboriginal Voices Reneltta Arluk

Miękka

63.45 zł

This book presents a consolidated study of the entire class of intermittent failures by analyzing the root causes behind these errors, their efficient detection and characterization, and finally fault tolerant design techniques at various layers of abstraction (from transistor to architecture) to improve reliability of system operation in presence of intermittent errors.