Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Sprawdzić stan zamówienia

Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści. Załóż konto bezpłatnie

Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł

DPD Kurier 12.99 zł Poczta Polska 18.99 zł Paczkomat 13.99 zł InPost 12.99 zł Punkt DPD 13.99 zł

Kontakt

Jak kupować

Pomoc

Moje konto

▸ Pusty :-(

Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Scanning Electron Microscopy

Name: Scanning Electron Microscopy
Brand: NY RESEARCH PRESS
SKU: 12434612
Price: 537.46 PLN
Availability: InStock
Author: Lisa Page
ISBN: 9781632384065

Lisa Page

Język

Angielski

Książka Twarda

Kod Libristo: 12434612

Wydawnictwo NY RESEARCH PRESS, marzec 2015

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments empl... Cały opis

Kod Libristo: 12434612

307 b

537.46 zł

50 % szansa Przeszukamy cały świat Kiedy dostanę książkę?

30 dni na zwrot towaru

Klienci kupili także

TOUT VA BIEN SE PASSER BRAMI

Miękka

67.94 zł

Procédures fiscales Thierry Lambert

Miękka

239.27 zł

Le Programmeur pragmatique Andrew Hunt

Miękka

190.39 zł

Arbeiter Im Volkswagenwerk Im Dritten Reich Tanja Schwabe

Miękka

72.56 zł

Porträt des Meisters in mittleren Jahren Colm Toibin

Miękka

67.24 zł

Un dulce rubor Gil Benítez

Miękka

113.20 zł

La valse de l'adieu Philippe de Villiers

Miękka

121.24 zł

Pilates per la riabilitazione. Recuperare dagli infortuni e ottimizzare la funzionalità Samantha Wood

Miękka

164.19 zł

Mytologická zvířata Tam O'Malleyová

Twarda

33.61 zł

Lída Baarová Návraty Jiří Tauchen

Twarda

9.63 zł

Zwingli Aimé Richardt

Miękka

99.46 zł

L'arabe langue vivante Volume 3 Hamida Atoui

Książka

89.72 zł

Mein amerikanischer alpTraum Karl-Heinz Bergbauer

Twarda

87.71 zł

Abfindungsorientierte Kuendigungsschutzmodelle Matthias Sandmaier

Miękka

266.27 zł

Traite Pratique de Magnetisme Humain, Ou Resume de Tous Les Principes Et Procedes Du Magnetisme ROUGET-F

Miękka

77.98 zł

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.