Kontakt
Jak kupować
Dostawa
Doradca ds. zakupów
Semiconductor Memory Testing
Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAM's
Angielski
121 b
30 dni na zwrot towaru
Klienci kupili także
Stringent test quality requirements, at-speed test limitations & total cost associated with using expensive off-chip testers for embedded memory testing have forced system designers to introduce on-chip Memory Built-in Self Test (MBIST) techniques to generate, apply, read and compares test patterns in order to expose subtle defects of SRAM''s. The book discusses in detail the various fault models and test requirements associated with embedded SRAM s in today s System-On-Chip s and focuses on the implementation of testing algorithms for embedded SRAMs in the MBIST engine. The book also discusses a finding where failure analysis and silicon debug required an update to the algorithms and pattern backgrounds implemented in the MBIST.
Informacje o książce
Angielski
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanegoMogłoby Cię także zainteresować
/
Twarda
394.49
zł
/
Miękka
218.69
zł
/
Twarda
1 002.97
zł
/
Miękka
218.69
zł
