Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
ORLEN Paczka 10.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
Jak kupować
Pomoc
Dostawa
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
ORLEN Paczka 10.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
Doradca ds. zakupów
Jesteśmy tu dla Ciebie!
(32) 444 93 66
Moje konto
Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści.
Załóż konto bezpłatnie
▸
Pusty :-(
0
Technical Foundations for Measuring Ego Development
Język
Angielski
Angielski
Książka
Miękka
This book describes the evolution of the Washington University Sentence Completion Test (SCT), a maj...
Cały opis
Kod Libristo: 03026751
?
215 b
215 b
370.66
zł
Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 14-18 dni
30 dni na zwrot towaru
Mogłoby Cię także zainteresować
This book describes the evolution of the Washington University Sentence Completion Test (SCT), a major measure of ego development, from an intuitive rating scale to an empirically derived reliable and valid personality test. The authors recount the complet
Informacje o książce
Pełna nazwa
Technical Foundations for Measuring Ego Development
Autor
Le-Xuan Hy
Język
Angielski
Angielski
Oprawa
Książka - Miękka
Data wydania
2014
Liczba stron
144
EAN
9781138012356
ISBN
9781138012356
Kod Libristo
03026751
Wydawnictwo
Taylor & Francis Ltd
Waga
220
Wymiary
230 x 152 x 15
