Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

Sprawdzić stan zamówienia

Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści. Załóż konto bezpłatnie

Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł

DPD Kurier 12.99 zł Poczta Polska 18.99 zł Paczkomat 13.99 zł InPost Kurier 12.99 zł Punkt DPD 11.99 zł

Kontakt

Jak kupować

Pomoc

Moje konto

▸ Pusty :-(

Darmowa dostawa dla zamówień powyżej 299,00 zł.

X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films

Name: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 02182835
Price: 443.98 PLN
Availability: InStock
Author: Metin Tolan
ISBN: 9783662142189

Materials Science and Basic Research

Metin Tolan

Język

Angielski

Książka Miękka

Kod Libristo: 02182835

Wydawnictwo Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, marzec 2013

The properties of soft-matter thin films (e.g. liquid films, polymer coatings, Langmuir-Blodgett mul... Cały opis

Kod Libristo: 02182835

249 b

443.98 zł

Dostępna u dostawcy Wysyłamy za 5-8 dni

Nawet do 30 dni na zwrot

Klienci kupili także

Zeszyt z węższą liniaturą z marginesem

Artykuły papiernicze

10.71 zł

Livro para Colorir de Animais do Artico Nick Snels

Miękka

44.49 zł

Schrift Und Buchwesen In Alter Und Neuer Zeit (1899) Oskar Weise

Miękka

103.69 zł

Encounter Johann Sebastian Bach

CD Audio

90.11 zł

Esplorare Raspberry Pi 5 Boris Landoni

Miękka

65.93 zł

The properties of soft-matter thin films (e.g. liquid films, polymer coatings, Langmuir-Blodgett multilayers) nowadays play an important role in materials science. They are also very exciting with respect to fundamental questions: In thin films, liquids and polymers may be considered as trapped in a quasi-two-dimensional geometry. This confined geometry is expected to alter the properties and structures of these materials considerably. This volume is dedicated to the scattering of x-rays by soft-matter interfaces. X-ray scattering under grazing angles is the only tool to investigating these materials on atomic and mesoscopic length scales. A review of the field is presented with many examples.