Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 539 punkty

Opis

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Pełny tytuł: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
• Podtytuł: Process-Aware SRAM Design and Test
• Autor: Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 194
• EAN: 9781402083624
• ISBN: 1402083629
• ID: 01418343
• Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.
• Waga: 468 g
• Wymiary: 239 × 166 × 19 mm
• Data wydania: 01. May 2008

Ulubione w innej kategorii

---

---

---