Compact Models and Performance Investigations for Subthreshold Interconnects / Libristo.pl
Compact Models and Performance Investigations for Subthreshold Interconnects

Kod: 05194491

Compact Models and Performance Investigations for Subthreshold Interconnects

Autor Rohit Dhiman, Rajeevan Chandel

The book provides a detailed analysis of issues related to sub-threshold interconnect performance from the perspective of analytical approach and design techniques. Particular emphasis is laid on the performance analysis of coupli ... więcej

569.15


Dostępna u dostawcy w małych ilościach
Wysyłamy za 12 - 15 dni

Potrzebujesz więcej egzemplarzy?Jeżeli jesteś zainteresowany zakupem większej ilości egzemplarzy, skontaktuj się z nami, aby sprawdzić ich dostępność.


Dodaj do schowka

Zobacz książki o podobnej tematyce

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
  1. Zamów książkę i wybierz "Wyślij jako prezent".
  2. Natychmiast wyślemy Ci bon podarunkowy, który możesz przekazać adresatowi prezentu.
  3. Książka zostanie wysłana do adresata, a Ty o nic nie musisz się martwić.

Dowiedz się więcej

Więcej informacji o Compact Models and Performance Investigations for Subthreshold Interconnects

Za ten zakup dostaniesz 331 punkty

Opis

The book provides a detailed analysis of issues related to sub-threshold interconnect performance from the perspective of analytical approach and design techniques. Particular emphasis is laid on the performance analysis of coupling noise and variability issues in sub-threshold domain to develop efficient compact models. The proposed analytical approach gives physical insight of the parameters affecting the transient behavior of coupled interconnects. Remedial design techniques are also suggested to mitigate the effect of coupling noise. The effects of wire width, spacing between the wires, wire length are thoroughly investigated. In addition, the effects of parameters like driver strength on peak coupling noise have also been analyzed. Process, voltage and temperature variations are prominent factors affecting sub-threshold design and have also been investigated. The process variability analysis has been carried out using parametric analysis, process corner analysis and Monte Carlo technique. The book also provides a qualitative summary of the work reported in the literature by various researchers in the design of digital sub-threshold circuits. This book should be of interest for researchers and graduate students with deeper insights into sub-threshold interconnect models in particular. In this sense, this book will best fit as a text book and/or a reference book for students who are initiated in the area of research and advanced courses in nanotechnology, interconnect design and modeling.§

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

569.15

Ulubione w innej kategorii


250 000
zadowolonych klientów

Od roku 2008 obsłużyliśmy wielu miłośników książek, ale dla nas każdy był tym wyjątkowym.


Paczkomat 12,99 ZŁ 31975 punktów

Copyright! ©2008-24 libristo.pl Wszelkie prawa zastrzeżonePrywatnieCookies


Konto: Logowanie
Wszystkie książki świata w jednym miejscu. I co więcej w super cenach.

Koszyk ( pusty )

Kup za 299 zł i
zyskaj darmową dostawę.

Twoja lokalizacja: