Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 329 punkty

Opis

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Pełny tytuł: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
• Autor: Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 193
• EAN: 9781441999757
• ISBN: 1441999752
• ID: 01424651
• Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.
• Waga: 488 g
• Wymiary: 235 × 155 × 15 mm
• Data wydania: 10. March 2011

Ulubione w innej kategorii

---

---

---