Zobacz książki o podobnej tematyce

Powiadomienie o dostępności

Więcej informacji o Intermittent Failures in Integrated Circuits

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 422 punkty

Opis

This book presents a consolidated study of the entire class of intermittent failures by analyzing the root causes behind these errors, their efficient detection and characterization, and finally fault tolerant design techniques at various layers of abstraction (from transistor to architecture) to improve reliability of system operation in presence of intermittent errors.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Pełny tytuł: Intermittent Failures in Integrated Circuits
• Podtytuł: Detection, Characterization and Fault Tolerance
• Autor: Alodeep Sanyal, Sandip Kundu, Ilia Polian
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 300
• EAN: 9781441983145
• ISBN: 1441983147
• ID: 01424417
• Wydawca: Springer, Berlin
• Data wydania: 29. July 2015

Ulubione w innej kategorii

---

---

---