Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 552 punkty

Opis

While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. A guide for practitioners and researchers in a variety of disciplines, it addresses a broad range of applications in physics, chemistry, electrical engineering, and materials science.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Mathematics & science Physics Optical physics

• Pełny tytuł: Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide
• Autor: Harland G. Tompkins, William A. McGahan
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 248
• EAN: 9780471181729
• ISBN: 0471181722
• ID: 04888238
• Wydawca: John Wiley & Sons Inc
• Waga: 516 g
• Wymiary: 163 × 237 × 19 mm
• Data wydania: 06. April 1999

Ulubione w innej kategorii

---

---

---