Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 151 punkty

Opis

AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for biological system to determine substrate roughness analysis. The chitinous materials that mean microbiological matter are imaged for determining the surface roughness and interaction force of microbial surfaces by AFM.

Szczegóły książki

• Pełny tytuł: Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy
• Podtytuł: Surface Roughness-Practical Example
• Autor: Md.Abu Sayeed, Zakia Ferdous
• Język: Angielski
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 72
• EAN: 9783848400355
• ID: 07085730
• Wydawca: LAP Lambert Academic Publishing
• Waga: 118 g
• Wymiary: 229 × 152 × 4 mm
• Data wydania: 09. February 2012

Ulubione w innej kategorii

---

---

---