Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Wzorcowanie aparatury pomiarowej

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 60 punkty

Opis

Nowoczesne podejscie do wymagan wspolczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w ktorym przedstawiono: ·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitosci miar; ·podstawowe pojecia metrologii, procedury zapewnienia jednosci miar, procedury wzorcowania przyrzadow pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; ·zasady tworzenia schematow sprawdzan wzorcow i narzedzi pomiarowych; ·aspekty niepewnosci wynikow pomiarow i procedur wyznaczania niepewnosci, ·wstepne opracowanie wynikow kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy roznych wlasciwosciach bledow; ·badanie metod analitycznych oraz badania miedzylaboratoryjne procedur wzorcowania; ·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obslugi laboratorium; ·sprawdzanie (walidacje) metod badania i wzorcowania; ·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodnosci; ·przyklad ksiegi jakosci laboratorium spelniajacego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porownaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdzialach wprowadzono zmiany i uzupelnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitosci miar uwzgledniono postep prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) ukladu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacja nowych (kwantowych) etalonow. Opisano tez komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisow prawnych i norm, co bylo szczegolnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowan badania bieglosci laboratorium wzorcujacego, ktore jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji miedzynarodowych. Ksiazka jest adresowana zarowno do studentow uniwersytetow (na wydzialach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracownikow naukowych i inzynierow zajmujacych sie budowa aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemie fizyczna i analityczna.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po polsku Technika. Informatyka. Przemysł. Rzemiosło. Rolnictwo Technika. Mechanika techniczna Metrologia

• Pełny tytuł: Wzorcowanie aparatury pomiarowej
• Autor: Janusz Piotrowski
• Język: Polski
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 582
• EAN: 9788301170516
• ISBN: 8301170514
• ID: 12872374
• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN
• Waga: 980 g
• Wymiary: 240 × 170 mm
• Data wydania: January 2012

Ulubione w innej kategorii

---

---

---