Variability on pod yld, drought tole & leaf spot res of ground nut / Libristo.pl
Variability on pod yld, drought tole & leaf spot res of ground nut

Kod: 16051079

Variability on pod yld, drought tole & leaf spot res of ground nut

Autor Shree Bhagavan Thakur, Surya Kant Ghimire, Bhartendu Mishra Mishra

The genotype ICGV-99171, ICGV-98089, ICGV-97100, Baidehi, ICGV-00440, and B-4 performed better under drought condition tolerance with high pod yield. Hence, it is suggested that these genotypes could be grown under regions of limi ... więcej

240.15

Zwykle: 252.88 zł

Oszczędzasz 12.73 zł


Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 8 - 10 dni
Dodaj do schowka

Zobacz książki o podobnej tematyce

Bon podarunkowy: Radość gwarantowana

Wzór bonu podarunkowegoDowiedz się więcej

Więcej informacji o Variability on pod yld, drought tole & leaf spot res of ground nut

Za ten zakup dostaniesz 140 punkty

Opis

The genotype ICGV-99171, ICGV-98089, ICGV-97100, Baidehi, ICGV-00440, and B-4 performed better under drought condition tolerance with high pod yield. Hence, it is suggested that these genotypes could be grown under regions of limited rainfall. These lines may be used as parents in breeding program for developing drought tolerant groundnut cultivars. The results indicated that genotype ICGV-91074, ICGV-88473, ICGV-92173, B-4, Rajashri, ICGV-91104 and ICGV-98089 had lower level of Cercospora leaf spot disease incidence. Genotypes ICGV-91074, ICGV-98089, ICGV-92173 and ICGV-88473 produced higher pod yield and also had lower Cercospora leaf spot incidence. Genotypes ICGV-91104, ICGV-92173, B-4 and ICGV-91074 produced higher haulm yield and had the lower Cercospora leaf spot incidence. This study indicated that development or selection of tolerant/ resistant genotypes against leaf spot disease should be based on their level of disease incidence. Therefore, potential source of genetic resistance to this disease exist for selection among genotypes used in this study. Pod yield showed highly significant positive association with days to maturity, haulm yield and pod length.

Szczegóły książki

240.15

Ulubione w innej kategorii


250 000
zadowolonych klientów

Od roku 2008 obsłużyliśmy wielu miłośników książek, ale dla nas każdy był tym wyjątkowym.


Paczkomat 12,99 ZŁ 31975 punktów

Copyright! ©2008-24 libristo.pl Wszelkie prawa zastrzeżonePrywatnieCookies


Konto: Logowanie
Wszystkie książki świata w jednym miejscu. I co więcej w super cenach.

Koszyk ( pusty )

Kup za 299 zł i
zyskaj darmową dostawę.

Twoja lokalizacja: