Kod: 06684894
Electron Microscopy and Analysis 1997, Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Cambri
Includes papers on the early history of electron microscopy, the development of the scanning electron microscope at Cambridge, electron energy loss spectroscopy, imaging methods, and the future of electron microscopy. This book al ... więcej
Bon podarunkowy: Radość gwarantowana
- Podaruj bon o dowolnej wartości, a my się zajmiemy resztą.
- Bon podarunkowy dotyczy całej naszej oferty.
- Możesz wydrukować elektroniczny bon z e-maila a następnie przekazać go obdarowanemu.
- Ważność bonu wynosi 12 miesięcy od daty wystawienia.
Wzór bonu podarunkowegoDowiedz się więcej
Więcej informacji o Electron Microscopy and Analysis 1997, Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Cambri
Za ten zakup dostaniesz 226 punkty
Opis
Includes papers on the early history of electron microscopy, the development of the scanning electron microscope at Cambridge, electron energy loss spectroscopy, imaging methods, and the future of electron microscopy. This book also discusses electron imaging, electron energy-loss and x-ray analysis and scanning probe.
Szczegóły książki
Kategoria
Książki po angielsku
Mathematics & science
Science: general issues
Scientific equipment, experiments & techniques
- Pełny tytuł: Electron Microscopy and Analysis 1997, Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Cambri
- Autor: John M. Rodenburg
- Język: Angielski
- Oprawa: Twarda
- Liczba stron: 708
- EAN: 9780750304412
- ISBN: 9780750304412
- ID: 06684894
- Wydawca: Taylor & Francis Ltd
- Waga: 1338 g
- Wymiary: 234 × 156 × 38 mm
- Data wydania: 01. January 1997
Ulubione w innej kategorii
250 000
zadowolonych klientów
Od roku 2008 obsłużyliśmy wielu miłośników książek, ale dla nas każdy był tym wyjątkowym.